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日本三豐工具測量顯微鏡MF-A3017B
日本三豐工具測量顯微鏡MF-A3017B

日本三豐工具測量顯微鏡MF-A3017B 它能對應明視野、明暗視野、偏光、微分干涉等各式各樣的被測物之觀察評估。 有同等級顯微鏡中更大的載物臺(400×200㎜),并設計有大范圍量測時很方便的快速移動裝置。 Z軸附有高精度的光學尺。 在Z軸的兩側都裝有對焦旋鈕,及內藏式X、Y軸歸零按鍵等,亦是重視操作性的新設計。 處理系統搭配二次元資料A25D使用,尺寸量測更簡易。

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供應日本mitutoyo三豐測量顯微鏡MF-A1010D
供應日本mitutoyo三豐測量顯微鏡MF-A1010D

供應日本mitutoyo三豐測量顯微鏡MF-A1010D 特點 可觀察清晰無閃爍正像,且視場開闊。 測量精度在同類設備中高(符合JISB7153標準)。 使用ML系列,專門為MF系列設計的高NA物鏡(長工作距離型)。 照明裝置(反射/透射)可選用高亮度LED燈泡或鹵素燈泡。 利用可變孔徑光闌(反射/透射)可進行無衍射觀察測量。 各類尺寸的標準工作臺,z大達到400*200mm。

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日本三豐Mituyoyo顯微鏡——物鏡378 系列
日本三豐Mituyoyo顯微鏡——物鏡378 系列

日本三豐Mituyoyo顯微鏡——物鏡378系列 ?M/BDPlanApo(MPlanApochromat亮視場)系列具有在整個視野中實現高彩色再現性所需的圖像均勻度。 ?以下物鏡支持波長范圍廣,包括近紫外、可見和紫外激光。專業LCD激光物鏡:M/LCDPlanNIR(-HR)系列(用于超長工作距離激光加工的近紫外校正透鏡)

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三豐Mitutoyo視像顯微鏡裝置VMU-V
三豐Mitutoyo視像顯微鏡裝置VMU-V

三豐Mitutoyo視像顯微鏡裝置VMU-V ?緊湊輕量型顯微鏡,相機觀察型。適于檢測金屬表面、半導體、液晶面板、樹脂等。 ?多種鏡體通常用作適用于專業器械的OEM(原廠委制)產品,如那些利用YAG(近紅外、可見、近紫外或紫外)激光*對半導體晶片進行檢測和修補的設備。*不保證激光系統產品的性能和安全性。

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日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z
日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z

日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z ?帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。 ?多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專業器械的OEM(原廠委制)產品,如那些利用YAG(近紅外、可見、近紫外或紫外)激光*對半導體晶片進行檢測和修補的設備。*不保證激光系統產品的性能和安全性。

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日本三豐 測量影像顯微鏡MF-B2017D
日本三豐 測量影像顯微鏡MF-B2017D

日本三豐測量影像顯微鏡MF-B2017D ?安裝本單元可將您的測量顯微鏡升級為影像測量機。 ?自動測量工具和各種宏圖標可使測量一步到位。 ?圖像窗口和導航功能使測量操作簡單易行。 ?圖形保存功能和數據輸出至電子表格軟件的功能為標準功能。 ?與FocusPilot裝置組合使用,可進行高精度的高度測量。

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